http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/48726
題名: | Effect of copper content on the electrical stability of nickel oxide films | 作者: | S. C. Chen T. Y. Kuo S. U. Jen H. P. Chiang W. Y. Liu C. H. Wang |
公開日期: | 2015-04 | 關聯: | THIN SOLID FILMS 584, 238-242 | URI: | http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/48726 | ISSN: | http://gateway.isiknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Drexel&SrcApp=hagerty_opac&KeyRecord=0040-6090&DestApp=JCR&RQ=IF_CAT_BOXPLOT |
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