http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/43325
題名: | 散射式掃描近場光學顯微鏡—次十奈米級光學檢測 | 作者: | 朱仁佑 汪天仁 張祐嘉 葉吉田 王俊凱 |
公開日期: | 2008-04-01 | 關聯: | 科儀新知 163,頁35-45 | URI: | http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/43325 |
顯示於: | 原子與分子科學研究所 |
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