第 1 到 1 筆結果,共 1 筆。
公開日期 | 題名 | 作者 | 關聯 | scopus | WOS | 全文 | |
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1 | 2011 | In Situ Vacuum Measurement of the Thickness Dependence of Electron Mobility in Naphthalenetetracarboxylic Diimide-Based Field-Effect Transistors | Liu, Shun-Wei; Lee, Chih-Chien; Wen, Je-Min; Chen, Chin-Ti | APPLIED PHYSICS LETTERS 98, 023306 |