| Issue Date | Title | Author(s) | Relation | scopus | WOS | Fulltext/Archive link |
| 1998 | Electronic and Atomic Structures of Si–C–N Thin Film by X-ray-absorption Spectroscopy | Pong, W. F.; Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Tsai, M. H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. | JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA 92, 115-118 | | | |
| 1998 | Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations | Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Pong, W. F.; Tsai, M. H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H. ; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. | Physical Review B 58(14):9018 | | | |
| 2001 | The Effect of Annealing Time on the Electronic Structure of the Fe-Cu-Nb-Si-B Alloys | Chang, Y. K.; Cheng, Y. H.; Pong, W. F.; Tsai, M. H.; Chen, Y. Y.; Chiou, J. W.; Jan, J. C.; Asokan, K.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Dann, T. E.; Leu, M. S.; Chin, T. S. | J. Electron Spectroscopy114-116, 831-835 | | | |
| 1999 | X-ray absorption of Si–C–N thin films: A comparison between crystalline and amorphous phases | Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Pong, W. F.; Tsai, M. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H. ; Wu, J. J.; Chen, Y. F. | Journal of Applied Physics 86(10), 5609-5613 | | | |
