http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/90387| 題名: | A Complete Bayesian Degradation Analysis Based on Inverse Gaussian Processes | 作者: | Fan, T. H. Dong, Y. S. Peng, C. Y. |
公開日期: | 2024-03 | 關聯: | IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY 73(1), 536-548 | URI: | http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/90387 |
| 顯示於： | 統計科學研究所 |
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