Determining the film thickness and probing the interface structure with characteristic scanning tunneling spectroscopy

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題名:	Determining the film thickness and probing the interface structure with characteristic scanning tunneling spectroscopy
作者:	Lu, S. M. Shih, H. C. Jiang, C. L. Su, W. B. Chang, C. S. Tsong, Tien T.
公開日期:	2006
關聯:	Chin. J. Phys. 44, 309
URI:	http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/47367
顯示於：	物理研究所

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