Investigation of Cu0.5Ni0.5/Nb interface transparency by using current-perpendicular-to-plane measurement.

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題名:	Investigation of Cu0.5Ni0.5/Nb interface transparency by using current-perpendicular-to-plane measurement.
作者:	Huang, S. Y. Liang, J. J. Hsu, S. Y. Lin, L. K. Tsai, T. C. Lee, S. F.
公開日期:	2011-01-01
關聯:	EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL B79, 153-162
URI:	http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/46365
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