http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/33134
題名: | Enhancing the Sensitivity of Molecular Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) with C60+-O2+ Cosputtering | 作者: | Liao, Hua-Yang Lin, Kang-Yi Kao, Wei-Lun Chang, Hsun-Yun Huang, Chih-Chieh Shyue, Jing-Jong |
公開日期: | 2013 | 關聯: | ANALYTICAL CHEMISTRY 85 [7] 3781-3788 | URI: | http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/33134 | ISSN: | http://gateway.isiknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Drexel&SrcApp=hagerty_opac&KeyRecord=0003-2700&DestApp=JCR&RQ=IF_CAT_BOXPLOT |
顯示於: | 應用科學研究中心 |
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