| Issue Date | Title | Author(s) | Relation | scopus | WOS | Fulltext/Archive link |
| 1998 | Electronic and Atomic Structures of Si–C–N Thin Film by X-ray-absorption Spectroscopy | Pong, W. F.; Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Tsai, M. H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. | JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA 92, 115-118 | | | |
| 1998 | Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations | Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Pong, W. F.; Tsai, M. H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H. ; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. | Physical Review B 58(14):9018 | | | |
| 2000 | Electronic Properties of the Diamond Film with Nitrogen Impurities: An X-ray Absorption and Photoemission Spectroscopy Study | Chang, Y. D.; Chiu, A. P.; Pong, W. F.; Tsai, M. H.; Chang, Y. K.; Chen, Y. Y.; Chiou, J. W.; Jan, C. J.; Tseng, P. K.; Wu, R. T.; Chung, s. C.; Tsang, K. L.; Lin, I. N.; Cheng, H. F. | Applied Phys. Lett77. 43622 | | | |
