公開日期 | 題名 | 作者 | 關聯 | scopus | WOS | 全文 |
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2009 | Spectroscopic ellipsometry analysis of silicon nanotips obtained by electron cyclotron resonance plasma etching | Mendoza-Galván, Arturo; Järrendahl, Kenneth; Arwin, Hans; Huang, Yi-Fan; Chen, L. C.; Chen, K. H. | APPLIED OPTICS 48, 4996-5004 |