Rotational positioning system adapted to atomic force microscope for measuring anisotropic surface properties

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題名:	Rotational positioning system adapted to atomic force microscope for measuring anisotropic surface properties
作者:	Liao, H. -S. Juang, B. -J. Chang, W. -C. Lai, W. -C. Huang, K. -Y. Chang, C. -S.
公開日期:	2011
關聯:	REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS82, 113710
URI:	http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/47389
顯示於：	物理研究所

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