http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/46652
題名: | Identification of embedded charge defects in suspended silicon nanowires using a carbon-nanotube cantilever gate | 作者: | Lan, Yann-Wen Nguyen, Linh-Nam Lai, Shui-Jin Lin, Ming-Chou Kuan, Chieh-Hsiung Chen, Chii-Dong |
公開日期: | 2011-08-01 | 關聯: | APPLIED PHYSICS LETTERS99, 053104 | URI: | http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/46652 |
顯示於: | 物理研究所 |
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