http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/33829
題名: | Deconvolution of local surface response from topography in nanometer profilometry with a dual-scan method | 作者: | Tsai, Chao-Wei Lee, Chau-Hwang Wang, Jyhpyng |
公開日期: | 1999-12-01 | 關聯: | OPTICS LETTERS 24, 1732-1734 | URI: | http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/33829 | ISSN: | http://gateway.isiknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Drexel&SrcApp=hagerty_opac&KeyRecord=0146-9592&DestApp=JCR&RQ=IF_CAT_BOXPLOT |
顯示於: | 應用科學研究中心 |
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